X射線衍射儀XRD由X射線源、樣品支架、衍射器、探測器等組成。首先，通過X射線源產(chǎn)生的X射線束照射到樣品上。樣品中的晶體對X射線進行衍射，產(chǎn)生衍射圖樣。在衍射器的作用下，衍射圖樣被分散成不同入射角度的X射線。探測器記錄不同入射角度的X射線強度，形成衍射譜。其工作原理是基于布拉格法則。根據(jù)布拉格法則，晶體對X射線的衍射滿足2dsinθ=λ，其中d是晶格常數(shù)，θ是入射角，λ是X射線的波長。通過測量衍射角度θ和已知的波長λ，可以計算出晶格常數(shù)d。進一步的計算和分析可以得到晶體的結構...

煤巖分析系統(tǒng)是利用現(xiàn)代化的儀器設備對煤炭樣品進行分析，可以得到煤的組成、含量等多種信息。它主要包括煤質分析、煤巖組分及微量元素分析等幾個方面。其中，煤質分析是對煤的質量特性進行綜合評價，包括煤的水分、灰分、揮發(fā)分、固定碳等指標；煤巖組分分析主要是確定煤中各種有機組分及無機組分的含量；微量元素分析則是對煤中微量元素的含量進行分析。其工作原理是基于化學分析和物理分析的方法。首先，對待測樣品進行樣品制備，去除雜質，并將樣品研磨成適合分析的細粉。然后，通過物理分析方法，如X射線衍射、...

普通掃描電鏡(SEM)是一種能夠觀察物質表面形貌、結構和成分的高性能顯微鏡。它采用高能電子束與樣品表面相互作用，通過探針控制和信號放大器對來自樣品不同區(qū)域的電子反射、散射、輻射等信號進行分析處理，從而獲得高分辨率的圖像。其原理主要包括兩個方面：高能電子束和信號檢測系統(tǒng)。高能電子束是SEM的核心部件，它由電子槍、聚焦系統(tǒng)、透鏡和樣品臺組成。電子束從電子槍發(fā)射出，經(jīng)過聚焦系統(tǒng)和透鏡聚焦成小的電子束照射到樣品表面上。由于電子束能量很高，當它與樣品表面相互作用時，可產(chǎn)生多種電子信號，...

超高壓XRD是指在高溫和高壓的環(huán)境下使用X射線衍射技術研究材料的結構和性質的一種方法，常用于地球和材料科學研究中。主要通過四個步驟來實現(xiàn)：樣品制備、高溫和高壓處理、X射線探測和數(shù)據(jù)分析。1.需要制備高質量的樣品。這是非常重要的一步，因為只有樣品的組成、純度和晶體結構非常規(guī)范，才能保證分析結果的可靠性。制備好樣品之后，需要使用高溫高壓設備對其進行處理。2.利用高溫高壓設備，可以模擬地球內部或是其他惡劣環(huán)境下的條件，使得材料處于高壓和高溫的狀態(tài)下，產(chǎn)生新的物理和化學反應。這樣可以...

巖礦分析系統(tǒng)是一種用于分析巖石、礦物等樣品成分和結構特征的儀器。該系統(tǒng)集成了多種技術手段，如顯微鏡、激光、電子、X射線等，可實現(xiàn)多種分析方法，如顯微鏡分析、拉曼光譜分析、X射線熒光光譜分析等。一般由樣品處理設備、顯微鏡、成像系統(tǒng)、光學分析系統(tǒng)和計算機控制系統(tǒng)等組成。廣泛應用于地質勘探、礦床評估、巖石學研究、礦物學研究、材料科學等領域。在地質勘探中，巖礦分析系統(tǒng)可以幫助地質工作者確定礦物成分和化學成分，進而評估礦床的含量、質量、可采性等；在巖石學和礦物學研究中，巖礦分析系統(tǒng)可以...

臺式電鏡SEM(ScanningElectronMicroscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過掃描樣品表面并利用反射出的電子來獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。臺式電鏡SEM主要有以下作用：1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級別的表面結構和形貌，為材料表面結構分析提供依據(jù)。2.分析元素成分分布：能夠進行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生...

臺式掃描電鏡可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；從試表面形貌獲得多方面資料，在掃描電鏡中，不僅可以利用入射電子和試樣相互作用產(chǎn)生各種信息來成象，而且可以通過信號處理方法，獲得多種圖象的特殊顯示方法，還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。因為掃描電子象不是同時記錄的，它是分解為近百萬個逐次依此記錄構成的。因而使得高分辨率臺式掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進行結晶學分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。易于管理，即使是沒有或著僅具有實驗室基...