臺式掃描電子顯微鏡

    JCM-7000是日本電子2019年4月新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型電鏡強大的功能，相對于大型掃描電鏡，其自動化程度高，操作簡單便捷，維護保養容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更高效便捷的服務于您的研究和工作。

JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡主要功能：

◆       在同一個視野上可以從光學圖像無縫過渡到（SEM）圖像

◆       邊觀察邊進行元素分析

◆       通過自動功能使圖像從低倍率到高倍率變得更容易

◆       低真空 (LV) 模式可以用來直接觀測不導電的樣品

◆       高真空 (HV) 模式可以進行高倍率詳細形貌的觀察

◆       在同一視野上可以實時顯示3D圖像 (Live 3D)

◆      自動布局且可以一鍵輸出結果（SMILE VIEW TM  Lab)

    下面介紹幾個使用實例方便您對我們這款產品有一個更直觀深入的了解：

 樣品巖鹽，JCM-7000可以在同一個視野下由光學成像自動連續無縫過渡到SEM成像。

 樣品合金，JCM-7000通過高靈敏度能譜探測器既可以實時顯示視野范圍中的主要組成元素，還能實時顯示樣品中各種元素的面分布情況。

樣品螺絲，JCM-7000采用新型高靈敏度4分割背散射電子探測器，實現了四種掃描電鏡（成分、凹凸、陰影）圖像和三維圖像的采集和顯示，可以實時顯示樣品表面的3D形貌,通過右邊的形貌維彩圖可以清晰看出螺絲的凹凸紋理。   

 樣品SUS304不銹鋼，使用JCM-7000，可以精細分析樣品斷裂的細節，包括斷裂面的表面形貌、斷裂起始點的元素分布，以及材料中的夾雜物等，由此推斷其斷裂成因。   

樣品玻璃，*透明樣品使用光學顯微鏡很難觀察形貌，而利用SEM觀察，可以清楚的觀察到樣品表面形貌信息，放大后各種細節也清晰可見。

上圖是設備的基本測試流程，我們可以看見整個測試流程是十分簡單和便捷，用戶輕松迅速的就能掌握設備的使用。另外，它從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右，高效快速的測試速度也能給我們工作效率的提升帶來ji大的助力！

參數信息：