臺式電鏡SEM的樣品制備方法

　　臺式電鏡SEM是一個相對年輕且發展迅速的產品。其實許多應用領域并不需要使用低于1nm的高分辨率掃描電鏡（SEM），10nm的分辨率是綽綽有余的。然而，由于材料特征點尺寸越來越小和觀測需求的增加，而且它的放大倍數可高達130,000倍。此類新型儀器的出現*光學顯微鏡與傳統大型掃描電子顯微鏡之間的空白區域，可廣泛應用于材料科學、納米顆粒、生物醫學、食品藥品、紡織纖維、地質科學等諸多領域。

　　臺式電鏡SEM的樣品制備方法：

　　1.佩戴無粉手套，使用鑷子把丁型樣品臺放置在制樣臺上（嚴禁在樣品杯中直接制備樣品，以免污染樣品杯！）。

　　2.剪取導電膠并將其一面粘于丁型樣品臺上，之后將樣品粘于導電膠的另一面（導電膠與樣品嚴禁超出樣品臺）。

　　3.若樣品為塊體或片狀，將待觀測的表面朝上，把樣品粘附在導電膠上。若要觀察樣品的截面，則須使用截面樣品臺，將導電膠貼在樣品臺的截面上，與樣品臺上表面恰好呈90度垂直，再把樣品粘附在導電膠上，確保觀察的立面朝正上方。

　　4.若樣品為粉末狀，用藥勺或牙簽取少量粉末，將其分散地灑在導電膠上，用鑷子夾住樣品臺，在桌面上輕輕磕碰，使得沒有粘住的樣品更加松散，以便后續清除。

　　5.若樣品為磁性塊體，須用更多的導電膠加固樣品的四周。樣品磁性要弱，而且必須為薄片，否則不好加固。塊體過小會影響加固效果，為保證加固效果滿足電鏡要求，應使用大樣品臺配合稍大的磁性塊體。磁性粉末不能直接進行測試，須濺射在一個基底上面，無法自由移動才能進行測試。